LED壽命與老化測試
一、LED老化試驗（SMD）
LED老化試驗儀針各種貼片LED的進行多路老化試驗，且每路具有獨立恒流源。儀器具有三種老化方式，在恒流和沖擊老化方式下顯示正向電流的電流值、頻率或占空比；在開關老化方式下，顯示開關次數(shù)。并對老化時間進行顯示記錄。
系統(tǒng)組成
CHL-120 LED老化試驗儀，LED老化試驗儀專用夾具，LED老化試驗儀專用軟件，PC機組成。
二、LED加速老化試驗儀
加速老化試驗儀專門針對LED老化試驗。電流、頻率、占空比、老化時間均智能可調(diào)，配備6組獨立恒流電源對60個不同工位LED進行單獨供電。相關測試參數(shù)可根據(jù)用戶需要自由設定。從而實現(xiàn)LED額定要求條件下的常規(guī)老化試驗和過載沖擊條件下的加速老化試驗。儀器具有可靠性好、調(diào)節(jié)方便、壽命長等優(yōu)點，是LED老化試驗的首先產(chǎn)品。
系統(tǒng)組成
CHL-600 加速老化試驗儀，CHL-600 加速老化試驗儀專用測試夾具，加速老化試驗儀專用軟件，PC機等組成。
三、LED燈具加速老化和壽命測試系統(tǒng)
LED燈具加速老化和壽命測試系統(tǒng)主要用于LED模組或LED燈具的常規(guī)老化、加速老化、光通維持特性試驗、溫度特性試驗、壽命試驗、顏色偏移測試，并具 備LED模塊或燈具壽命推算及預估功能。系統(tǒng)主要參考IES LM-80-08標準及IES TM-21-11標準設計。安裝在上位機內(nèi)的 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測試系統(tǒng)軟件可通過RS232或RS485串行通訊接口程序控制本系統(tǒng)，控制過程中可逐個點亮或全部點亮被測光源， 本系統(tǒng)最多可控制16個被測光源，上位機逐個點亮被測光源時，可通過WT105 數(shù)字電參數(shù)測量儀、CHL-3 LED光色快速測試儀、TMP-X 多路 溫度巡檢儀將被點亮的LED燈具的光、色、電、溫度（燈具殼溫）特性參數(shù)通過相同的串行通訊接口傳回上位機。再由上位機內(nèi)的LTS-3000 燈具加速老 化和壽命測試系統(tǒng)軟件分析各個被測LED燈具的光通維持特性、溫度特性、壽命特性、顏色偏移等，再根據(jù)IES TM-21-11推算。
系統(tǒng)組成
由 LTS-3000 燈具加速老化和壽命測試系統(tǒng)軟件、WT105 數(shù)字電參數(shù)測量儀、CHL- 3 LED光色快速測試儀、CHP-XXX交流變頻測試穩(wěn)壓電源、TMP-X 多路溫度巡檢儀、高低溫試驗箱、CHCP-18 多路供電控制系統(tǒng)、19英寸標準機柜、MCB-III多路通訊集成器組成。
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